探針的針頭接觸不靈可能由多種因素導致，以下是一些常見的原因及相應的解決方法：

1. 頭部污染或磨損：
- 探針頭部如果受到污染或磨損，會影響其與測試物品的接觸情況，從而導致接觸不良。

- 解決辦法：及時清潔或者更換探針頭部。

2. 插頭接觸不良：

- 如果測試探針插頭和測試儀器的插孔接觸不良，也會導致接觸不良。

- 解決辦法：檢查插頭和插孔，確保它們之間有良好的接觸。

3. 接觸點松動：

- 探針的接觸點如果松動，同樣會造成接觸不良。

- 解決辦法：檢查接觸點，并使用適當的工具（如扳手）緊固接觸點。

4. 彈簧老化：

- 探針內部的彈簧如果老化，可能會影響其彈性，導致接觸不良。

- 解決辦法：檢查彈簧，并更換老化的部分。

5. 接觸電阻變化：

- 在圓片測試等過程中，探針表面的變化可能導致接觸電阻變大，從而影響測試結果。

- 解決辦法：定期清潔探針，并在測試過程中采用優化技術，如雙針開爾文連接等，以減少接觸電阻的影響。

6. 被測試產品接觸點規格不統一：

- 如果被測試產品的接觸點規格不統一，也可能導致探針接觸不良。

- 解決辦法：確保被測試產品的接觸點規格統一，并符合測試要求。

綜上所述，探針針頭接觸不靈的原因可能涉及多個方面，需要根據具體情況進行排查和解決，同時，定期維護和保養探針也是預防接觸不良的重要措施之一。