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測試探針的頭部發黑是什么原因呢?

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測試探針的頭部發黑可能是由于以下原因導致的:

1.  氧化:測試探針的頭部可能會因為長時間暴露在空氣中而發生氧化反應,導致表面出現黑色氧化物,這種情況通常發生在金屬探針上。

2.  污染:測試探針的頭部可能會被污染物覆蓋,例如灰塵、污染物,這些污染物可能會導致探針頭部變黑。

3.  高溫:如果測試探針在高溫環境下使用或存儲,其頭部可能會因為熱膨脹而變形,導致表面出現黑色痕跡。

4.  磨損:長期使用測試探針可能會導致其頭部磨損,從而產生黑色痕跡。

5.  質量問題:如果測試探針的質量不好,例如材料不均勻或者制造過程中存在缺陷,也可能導致其頭部變黑。

6.電流:是否電流過大造成的

深圳市華榮華電子科技有限公司秉承“誠實守信 ,攜手共贏,以客戶需求為導向,堅持做價格厚道的好產品”為企業文化;將質量視為企業的生命。始終堅持“以質量為根本,堅持做價格厚道的好產品”的經營使命;不斷滿足市場需求,與廣大客戶攜手合作,誠實守信 ,攜手共贏,堅持以客戶需求為導向,共創美好未來!

測試探針按結構如何分類

測試探針按結構如何分類

測試探針按結構如何分類?從結構來看,常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針?! 椥蕴结槨 椥蕴结樣陕菪龔椈蓛啥颂捉釉谏舷轮ㄉ希菪龔椈芍虚g部分緊密纏繞(防止高頻信號產生附加電感和附件電阻),兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強),檢測集成電路時,信號從下柱栓向上形成導電路徑?! 冶凼教结槨 冶凼教结槥榻栌蓹M向懸臂提供探針針部在接觸待測半導體產品時適當的縱向位移,以避免探針針部施加于待測半導體產品的針壓過大?! 〈怪笔教结槨 〈怪笔教结樋蓪呙芏刃盘柦狱c的待測半導體產品的細間距排列,并借由針體本身的彈性變形提供針尖在接觸待測半導體產品所需的縱向位移?! ∩钲谑腥A榮華電子科技有限公司經多年發展,已經穩步成為國內測試探針集研發、生產銷售于一體的專業公司。華榮華現有員工10

2024-04-10

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